Login
- Titel:
ESD damage without failure, followed by EOS: A case study on automotive smart power IC's
- Dokumenttyp:
- Konferenzbeitrag
- Autor(en):
- Helmut, D.; Wachutka, G.; Groos, G.
- Kongress- / Buchtitel:
- Fachtagung Zuverlässigkeit und Entwurf
- Datum der Konferenz:
- 18-20 September 2017
- Verlagsort:
- Berlin
- Jahr:
- 2017
- Jahr / Monat:
- 2017-09
- Monat:
- Sep
- TUM Einrichtung:
- Lehrstuhl für Technische Elektrophysik
- Eingabe:
- 16.10.2018
BibTeX