The uncertainty of crop yield projections is reduced by improved temperature response functions

Wang, E.; Martre, P.; Zhao, Z.; Ewert, F.; Maiorano, A.; Rötter, R. P.; Kimball, B. A.; Ottman, M. J.; Wall, G. W.; White, J.W.; Reynolds, M.P.; Alderman, P. D.; Aggarwal, P.K.; Anothai, J.; Basso, B.; Biernath, C.; Cammarano, D.; Challinor, A. J.; De Sanctis,G.; Doltra J.; Fereres, E.; Garcia-Vila, M.; Gayler, S.; Hoogenboom, G.; Hunt, L. A.; Izaurralde, R. C.; Jabloun, M.; Jones, C. D.; Kersebaum, K. C.; Koehler, A.-K.; Liu, L.; Müller, C.; Naresh K.S.; Nendel, C.; O'Leary, G.; Olesen, J. E.; Palosuo, T.; Priesack, E.; Reynolds M.P.; Rezaei, E.E.; Ripoche, D.; Ruane, A. C.; Semenov, M. A.; Shcherbak, I.; Stöckle, C.; Stratonovitch, P.; Streck, T.; Supit, I.; Tao, F.; Thorburn, P.; Waha, K.; Wallach, D.; Wang, Z.; Wolf, J.; Zhu, Y.; Asseng, S.     «

Wang, E.; Martre, P.; Zhao, Z.; Ewert, F.; Maiorano, A.; Rötter, R. P.; Kimball, B. A.; Ottman, M. J.; Wall, G. W.; White, J.W.; Reynolds, M.P.; Alderman, P. D.; Aggarwal, P.K.; Anothai, J.; Basso, B.; Biernath, C.; Cammarano, D.; Challinor, A. J.; De Sanctis,G.; Doltra J.; Fereres, E.; Garcia-Vila, M.; Gayler, S.; Hoogenboom, G.; Hunt, L. A.; Izaurralde, R. C.; Jabloun, M.; Jones, C. D.; Kersebaum, K. C.; Koehler, A.-K.; Liu, L.; Müller, C.; Naresh K.S.; Nendel,...     »