Login
- Titel:
Understanding why the thinnest SiNx interface in transition-metal nitrides is stronger than the ideal bulk crystal
- Autor(en):
- ZHANG, R. F.; ARGON, A. S.; VEPREK, S.
- Zeitschriftentitel:
- PHYSICAL REVIEW B
- Jahr:
- 2010
- Band / Volume:
- 81
- Heft / Issue:
- 24
- Volltext / DOI:
- doi:10.1103/PhysRevB.81.245418
BibTeX