Login
- Dokumenttyp:
- Konferenzbeitrag
- Autor(en):
- Wachutka, G.
- Titel:
- Virtual Testing of High Power Devices at the Rim of the Safe Operating Area and Beyond
- Seitenangaben Beitrag:
- 6-11
- Kongress- / Buchtitel:
- Proceedings of the 26th International Symposium on PowerSemiconductor Devices & IC´s
- Kongress / Zusatzinformationen:
- ISPSD´14 - June 15-19, 2014 Waikoloa, Hawaii, USA
- Verlag / Institution:
- IEEE
- Jahr:
- 2014
- Print-ISBN:
- 978-1-4799-2917-7
- Reviewed:
- ja
- Sprache:
- en
BibTeX