- Titel:
"Zerstörung im aktiven Teil eines IGBT-Chips ausgelöst durch Avalanche-Durchbruch am Randabschluss"
- Dokumenttyp:
- Konferenzbeitrag
- Autor(en):
- Knipper, U.; Pfirsch, F.; Raker, T.; Niedermeyr, J.; Wachutka, G.
- Kongress- / Buchtitel:
- 37. Kolloquium "Halbleiter-Leistungsbauelemente und ihre systemtechnische Anwendung"
- Kongress / Zusatzinformationen:
- 27.10.2008-28.10.2008, Freiburg i. B.
- Jahr:
- 2008
- Sprache:
- de
- Erscheinungsform:
- CD-ROM / DVD
- Format:
- Text
- BibTeX