Benutzer: Gast  Login
Titel:

"Experimental Analysis and Modeling of the Mechanical Impact during the Dynamic Pull-In of RF-MEMS Switches"

Dokumenttyp:
Konferenzbeitrag
Autor(en):
Niessner, M. ; Iannacci, J. ; Schrag, G. ; Wachutka, G.
Seitenangaben Beitrag:
pp. 267-270
Kongress- / Buchtitel:
International Conference on Advanced Semiconductor Devices and Microsystems - ASDAM
Kongress / Zusatzinformationen:
Oct. 25-27, 2010, Smolenice Castle, Slovakia
Jahr:
2010
Reviewed:
ja
Sprache:
en
Erscheinungsform:
Print
Format:
Text
 BibTeX