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Title:

"Zerstörung im aktiven Teil eines IGBT-Chips ausgelöst durch Avalanche-Durchbruch am Randabschluss"

Document type:
Konferenzbeitrag
Author(s):
Knipper, U.; Pfirsch, F.; Raker, T.; Niedermeyr, J.; Wachutka, G.
Book / Congress title:
37. Kolloquium "Halbleiter-Leistungsbauelemente und ihre systemtechnische Anwendung"
Congress (additional information):
27.10.2008-28.10.2008, Freiburg i. B.
Year:
2008
Language:
de
Publication format:
CD-ROM / DVD
Format:
Text
 BibTeX