- Title:
"Zerstörung im aktiven Teil eines IGBT-Chips ausgelöst durch Avalanche-Durchbruch am Randabschluss"
- Document type:
- Konferenzbeitrag
- Author(s):
- Knipper, U.; Pfirsch, F.; Raker, T.; Niedermeyr, J.; Wachutka, G.
- Book / Congress title:
- 37. Kolloquium "Halbleiter-Leistungsbauelemente und ihre systemtechnische Anwendung"
- Congress (additional information):
- 27.10.2008-28.10.2008, Freiburg i. B.
- Year:
- 2008
- Language:
- de
- Publication format:
- CD-ROM / DVD
- Format:
- Text
- BibTeX