Benutzer: Gast  Login
Titel:

"Zerstörung im aktiven Teil eines IGBT-Chips ausgelöst durch Avalanche-Durchbruch am Randabschluss"

Dokumenttyp:
Konferenzbeitrag
Autor(en):
Knipper, U.; Pfirsch, F.; Raker, T.; Niedermeyr, J.; Wachutka, G.
Kongress- / Buchtitel:
37. Kolloquium "Halbleiter-Leistungsbauelemente und ihre systemtechnische Anwendung"
Kongress / Zusatzinformationen:
27.10.2008-28.10.2008, Freiburg i. B.
Jahr:
2008
Sprache:
de
Erscheinungsform:
CD-ROM / DVD
Format:
Text
 BibTeX