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Titel:

"Testing semiconductor devices at extremly high operating temperatures"

Dokumenttyp:
Zeitschriftenaufsatz
Autor(en):
Borthen, P.; Wachutka, G.
Zeitschriftentitel:
Microelectronics Reliability
Jahr:
2008
Band / Volume:
Vol 28, issues 8-9, special issue ESREF 2008
Seitenangaben Beitrag:
pp.1440-1443
Reviewed:
ja
Sprache:
en
Verlag / Institution:
Elsevier
Semester:
SS 02
Format:
Text
 BibTeX