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Titel:

Reliable Deep Learning-Based Analysis of Production Areas Using RGB-D Data and Model Confidence Calibration

Dokumenttyp:
Konferenzbeitrag
Autor(en):
Bauer, Johannes C.; Yilmaz, Kutay; Wächter, Sonja; Daub, Rüdiger
Seitenangaben Beitrag:
1-8
Kongress- / Buchtitel:
2024 IEEE 29th International Conference on Emerging Technologies and Factory Automation (ETFA)
Verlag / Institution:
IEEE
Publikationsdatum:
10.09.2024
Jahr:
2024
Volltext / DOI:
doi:10.1109/etfa61755.2024.10711012
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