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TUM School of Computation, Information and Technology
Messsystem- und Sensortechnik (Prof. Koch)
Titel:
Experimental demonstration of offset-induced sensitivity enhancement in SMS-based temperature and strain sensing
Dokumenttyp:
Zeitschriftenaufsatz
Autor(en):
Wang, K.; Mizuno, Y.; Lee, H.; Dong, X.; Kurz, W.; Fink, M.; Jakobi, M.; Koch, A.W.
Zeitschriftentitel:
Appl. Phys. Express
Jahr:
2023
Monat:
May
Heft / Issue:
16 / 5
Volltext / DOI:
doi:10.35848/1882-0786/acd046
WWW:
https://iopscience.iop.org/article/10.35848/1882-0786/acd046
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Vorkommen:
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