High-throughput estimation of crop traits: A review of ground and aerial phenotyping platforms

Jin, X.; Zarco-Tejada, P.; Schmidhalter, U.; Reynolds, M.; Hawkesford, M.; Varshney, R.; Yang, T.; Nie, Ch.; Li, Z.; Ming, B.; Xiao, Y.; Xie, Y.; Li, S.

doi:10.1109/mgrs.2020.2998816

Titel:: High-throughput estimation of crop traits: A review of ground and aerial phenotyping platforms
Dokumenttyp:: Zeitschriftenaufsatz
Autor(en):: Jin, X.; Zarco-Tejada, P.; Schmidhalter, U.; Reynolds, M.; Hawkesford, M.; Varshney, R.; Yang, T.; Nie, Ch.; Li, Z.; Ming, B.; Xiao, Y.; Xie, Y.; Li, S.
Zeitschriftentitel:: IEEE Geoscience and Remote Sensing Magazine
Jahr:: 2020
Seitenangaben Beitrag:: 0-0
Sprache:: en
Volltext / DOI:: doi:10.1109/mgrs.2020.2998816
Verlag / Institution:: Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
E-ISSN:: 2168-68312473-23972373-7468
Publikationsdatum:: 01.01.2020
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