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- Titel:
Impact of the Activation of Carbon Vacancies at High Temperatures on the Minority Carrier Lifetimes in the Intrinsic Area of 4H-SiC PiN Rectifier
- Dokumenttyp:
- Konferenzbeitrag
- Art des Konferenzbeitrags:
- Vortrag / Präsentation
- Autor(en):
- Lechner B.; Huang Y.; Wachutka G.
- Seitenangaben Beitrag:
- 9-12
- Kongress- / Buchtitel:
- Proceedings of the 12th International Conference on Advanced Semiconductor Devices and Microsystems (ASDAM)
- Kongress / Zusatzinformationen:
- Smolencie, Slovakia
- Datum der Konferenz:
- 21.10-24.10.2018
- Jahr:
- 2018
- Jahr / Monat:
- 2018-10
- Monat:
- Oct
- Seiten:
- 9-12
- Sprache:
- en
- TUM Einrichtung:
- Lehrstuhl für Technische Elektrophysik
- Eingabe:
- 20.11.2018
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