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Titel:

"Testing semiconductor devices at extremly high operating temperatures"

Dokumenttyp:
Konferenzbeitrag
Autor(en):
Borthen, P.; Wachutka, G.
Kongress- / Buchtitel:
Proceedings of the 19th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis - ESREF -
Kongress / Zusatzinformationen:
Sept. 29 to Oct. 2, 2008, Maastricht, The Netherlands
Jahr:
2008
Reviewed:
ja
Sprache:
en
Erscheinungsform:
CD-ROM / DVD
Semester:
SS 08
Format:
Text
 BibTeX