- Titel:
Understanding the trade-offs of device, circuit and application in ReRAM-based neuromorphic computing systems
- Dokumenttyp:
- Konferenzbeitrag
- Autor(en):
- Yan, Bonan; Liu, Chenchen; Liu, Xiaoxiao; Chen, Yiran; Li, Hai
- Kongress- / Buchtitel:
- 2017 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM)
- Verlag / Institution:
- IEEE
- Publikationsdatum:
- 01.12.2017
- Jahr:
- 2017
- Print-ISBN:
- 9781538635599
- Volltext / DOI:
- doi:10.1109/iedm.2017.8268371
- BibTeX