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Titel:

Test, Reliability and Functional Safety Trends for Automotive System-on-Chip

Dokumenttyp:
Konferenzbeitrag
Autor(en):
Angione, F.; Appello, D.; Athavale, J.; Bellarmino, Nicolò; Bernardi, P.; Cantoro, Riccardo; Sio, C. De; Foscale, T.; Gavarini, G.; Huch, Martin; Iaria, G.; Kilian, Tobias; Mariani, R.; Martone, Raffaele; Ruospo, A.; Sanchez, E.; Schlichtmann, Ulf; Squillero, Giovanni; Reorda, Matteo Sonza; Sterpone, Luca; Tancorre, V.; Ugioli, R.
Kongress- / Buchtitel:
IEEE European Test Symposium ETS
Jahr:
2022
Monat:
May
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