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Original title:
Design and Technology of Discrete Silicon-based Vertical SCR Devices for System-Level ESD Protection
Translated title:
Design und Technologie von diskreten auf Silizium basierenden vertikalen SCR Bauelementen für System-Level ESD-Schutz
Author:
Vendt, Vadim Valentinovic
Year:
2022
Document type:
Dissertation
Faculty/School:
Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik
Advisor:
Kreupl, Franz (Prof. Dr.)
Referee:
Kreupl, Franz (Prof. Dr.); Tornow, Marc (Prof. Dr.)
Language:
en
Subject group:
ELT Elektrotechnik
Keywords:
electrostatic, discharge, ESD, discrete device, sub-femto farad capacitance, thyristor, silicon-controlled-rectifier, vertical bipolar technology, TLP, snapback, de-latching, bipolar gain product
Translated keywords:
Elektrostatik, Entladung, ESD, Diskrete Bauelemente, sub-femto Farad Kapazitäten, Thyristor, Silicon-Controlled-Rectifier, vertikale Bipolar-Technology, TLP, snapback, de-latching, bipolares Verstärkungsprodukt
TUM classification:
ELT 079
Abstract:
Thyristor structures (SCR) are the best choice as ESD protection device for USB3.2 data lines due to their low holding voltage of less than 2.5V. The devices developed in this work cover working voltages from 3.3V to 18V, through a tunable trigger element. The novel LTVT device can protect both USB3.2 and RF applications such as NFC. An initial version of the developed LTVT achieved an system level ESD robustness of 20kV at a device capacitance of 0.25pF (15.5fF/kV). After optimization, 23kV at...     »
Translated abstract:
Thyristorstrukturen sind aufgrund ihrer niedrigen Haltespannung von weniger als 2.5V die beste Wahl als ESD-Schutz für USB3.2 Datenleitungen. Die in dieser Arbeit entwickelten Bauelemente decken Arbeitsspannungen von 3,3V bis 18V, durch ein abstimmbares Triggerelement ab. Das neuartige LTVT-Bauelement kann sowohl USB3.2 als auch RF-Anwendungen wie NFC schützen. Eine erste Version des entwickelten LTVT erreichte eine ESD-Robustheit von 20kV bei einer Kapazität von 0.25pF (15.5fF/kV). Nach Optimie...     »
WWW:
https://mediatum.ub.tum.de/?id=1632485
Date of submission:
16.11.2021
Oral examination:
25.07.2022
File size:
5794036 bytes
Pages:
167
Urn (citeable URL):
https://nbn-resolving.de/urn/resolver.pl?urn:nbn:de:bvb:91-diss-20220725-1632485-1-6
Last change:
16.09.2022
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