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Originaltitel:
Design and Technology of Discrete Silicon-based Vertical SCR Devices for System-Level ESD Protection
Übersetzter Titel:
Design und Technologie von diskreten auf Silizium basierenden vertikalen SCR Bauelementen für System-Level ESD-Schutz
Autor:
Vendt, Vadim Valentinovic
Jahr:
2022
Dokumenttyp:
Dissertation
Fakultät/School:
Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik
Betreuer:
Kreupl, Franz (Prof. Dr.)
Gutachter:
Kreupl, Franz (Prof. Dr.); Tornow, Marc (Prof. Dr.)
Sprache:
en
Fachgebiet:
ELT Elektrotechnik
Stichworte:
electrostatic, discharge, ESD, discrete device, sub-femto farad capacitance, thyristor, silicon-controlled-rectifier, vertical bipolar technology, TLP, snapback, de-latching, bipolar gain product
Übersetzte Stichworte:
Elektrostatik, Entladung, ESD, Diskrete Bauelemente, sub-femto Farad Kapazitäten, Thyristor, Silicon-Controlled-Rectifier, vertikale Bipolar-Technology, TLP, snapback, de-latching, bipolares Verstärkungsprodukt
TU-Systematik:
ELT 079
Kurzfassung:
Thyristor structures (SCR) are the best choice as ESD protection device for USB3.2 data lines due to their low holding voltage of less than 2.5V. The devices developed in this work cover working voltages from 3.3V to 18V, through a tunable trigger element. The novel LTVT device can protect both USB3.2 and RF applications such as NFC. An initial version of the developed LTVT achieved an system level ESD robustness of 20kV at a device capacitance of 0.25pF (15.5fF/kV). After optimization, 23kV at...     »
Übersetzte Kurzfassung:
Thyristorstrukturen sind aufgrund ihrer niedrigen Haltespannung von weniger als 2.5V die beste Wahl als ESD-Schutz für USB3.2 Datenleitungen. Die in dieser Arbeit entwickelten Bauelemente decken Arbeitsspannungen von 3,3V bis 18V, durch ein abstimmbares Triggerelement ab. Das neuartige LTVT-Bauelement kann sowohl USB3.2 als auch RF-Anwendungen wie NFC schützen. Eine erste Version des entwickelten LTVT erreichte eine ESD-Robustheit von 20kV bei einer Kapazität von 0.25pF (15.5fF/kV). Nach Optimie...     »
WWW:
https://mediatum.ub.tum.de/?id=1632485
Eingereicht am:
16.11.2021
Mündliche Prüfung:
25.07.2022
Dateigröße:
5794036 bytes
Seiten:
167
Urn (Zitierfähige URL):
https://nbn-resolving.de/urn/resolver.pl?urn:nbn:de:bvb:91-diss-20220725-1632485-1-6
Letzte Änderung:
16.09.2022
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