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Titel:

Improvement of Roughness Measurement in Sub-micron Ranges Using Contrast-based Depolarization Field Components

Dokumenttyp:
Konferenzbeitrag
Art des Konferenzbeitrags:
Vortrag / Präsentation
Autor(en):
Pöller, F.; Salazar Bloise F.; Jakobi, M.; Dong, J.; Koch, A.W.
Seitenangaben Beitrag:
S.173-S.183
Kongress- / Buchtitel:
OCM 2021 - Optical Characterization of Materials: Conference Proceedings
Datum der Konferenz:
17.03.2021 – 18.03.2021
Publikationsdatum:
17.03.2021
Jahr:
2021
Volltext / DOI:
doi:10.5445/KSP/1000128686
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