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Titel:

in-situ Characterization of MOCVD grown GaAs- and InP-based tunable VCSEL structures

Dokumenttyp:
Konferenzbeitrag
Autor(en):
C. Grasse; Y. Tomita, Y; P. Wiecha; R. Meyer; T. Grundl; M. Muller and M.-C. Amann
Kongress- / Buchtitel:
International conference on indium phosphide and related materials (IPRM)
Jahr:
2013
Reviewed:
ja
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