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Dokumenttyp:
Patent
Patent, Gebrauchsmuster Nr.:
US 8395927 B2
Erfinder:
FU CHU-CHEN, US KREUPL FRANZ, DE NIAN YIBO, US
Patentanmelder:
FU CHU-CHEN, US KREUPL FRANZ, DE NIAN YIBO, US
Titel:
Memory cell with resistance-switching layers including breakdown layer
Anmeldeland:
US
Veröffentlichungsdatum / Patent:
12.03.2013
Jahr:
2013
Sprache:
en
Nachgewiesen in:
Scopus
TUM Einrichtung:
Hybride Elektronische Systeme
Format:
Text
 BibTeX