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Titel:

It's Getting Hot in Here: Hardware Security Implications of Thermal Crosstalk on ReRAMs

Dokumenttyp:
Zeitschriftenaufsatz
Autor(en):
Staudigl, Felix; Al Indari, Hazem; Schön, Daniel; Chen, Hsin-Yu; Sisejkovic, Dominik; Joseph, Jan Moritz; Rana, Vikas; Menzel, Stephan; Hagelauer, Amelie; Leupers, Rainer
Stichworte:
Switches; Transistors; Crosstalk; Voltage; Hardware security; Resistance; Electric potential; Disturbance errors; hardware security; memristor; redox-based random access memory (ReRAM); reliability
Zeitschriftentitel:
IEEE Transactions on Reliability
Jahr:
2024
Seitenangaben Beitrag:
1-15
Volltext / DOI:
doi:10.1109/TR.2024.3371589
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