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Original title:
Characterization of a novel DePFET based sensor for an ultra-fast Transmission Electron Microscopy application
Translated title:
Charakterisierung eines neuartigen DePFET-basierten Sensors zur Anwendung für ultraschnelle Transmissionselektronenmikroskopie
Author:
Predikaka, Mitja
Year:
2022
Document type:
Dissertation
Faculty/School:
Fakultät für Physik
Advisor:
Bethke, Siegfried (Prof. Dr.)
Referee:
Bethke, Siegfried (Prof. Dr.); Oberauer, Lothar (Prof. Dr.)
Language:
en
Subject group:
PHY Physik
Keywords:
DePFET, silicon sensors, solid state detectors, transmission electron microscopy, direct electron detection
TUM classification:
PHY 000
Abstract:
The EDET DH80k camera system is being developed for high-intensity real-time real-space imaging of ultra-fast dynamic processes within transmission electron microscopy (TEM). Its 1 Mpixel sensitive array is based on the advanced DePFET technology and this work focuses on the characterization and optimization of the operation parameters. Radiation studies were performed to investigate the scope of damage that TEM electrons cause to DePFET pixels. From them the damage rates were evaluated and afte...     »
Translated abstract:
Das EDET DH80k Kamerasystem wird für hochintensive, echtzeit, Realraumbildgebung zur Beobachtung von ultraschnellen dynamischen Prozessen an Transmissions Eletronenmikroskopen (TEM) entwickelt. Das 1 MPixel Sensorarray basiert auf der DePFET Technologie. Hauptfokus dieser Arbeit ist die Charakterisierung und Optimierung der Betriebsparameter. Zusätzlich wurden Strahlenhärtetests durchgeführt um die Schädigungsmechanismen genauer zu untersuchen. Die Bestimmten Schädigungsraten wurden genutzt um V...     »
WWW:
https://mediatum.ub.tum.de/?id=1656556
Date of submission:
03.05.2022
Oral examination:
27.06.2022
File size:
26240151 bytes
Pages:
253
Urn (citeable URL):
https://nbn-resolving.de/urn/resolver.pl?urn:nbn:de:bvb:91-diss-20220627-1656556-1-5
Last change:
15.07.2022
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