The EDET DH80k camera system is being developed for high-intensity real-time real-space imaging of ultra-fast dynamic processes within transmission electron microscopy (TEM). Its 1 Mpixel sensitive array is based on the advanced DePFET technology and this work focuses on the characterization and optimization of the operation parameters. Radiation studies were performed to investigate the scope of damage that TEM electrons cause to DePFET pixels. From them the damage rates were evaluated and afterwards extrapolated on the long-term operation of the camera system.     «

The EDET DH80k camera system is being developed for high-intensity real-time real-space imaging of ultra-fast dynamic processes within transmission electron microscopy (TEM). Its 1 Mpixel sensitive array is based on the advanced DePFET technology and this work focuses on the characterization and optimization of the operation parameters. Radiation studies were performed to investigate the scope of damage that TEM electrons cause to DePFET pixels. From them the damage rates were evaluated and afte...     »

Das EDET DH80k Kamerasystem wird für hochintensive, echtzeit, Realraumbildgebung zur Beobachtung von ultraschnellen dynamischen Prozessen an Transmissions Eletronenmikroskopen (TEM) entwickelt. Das 1 MPixel Sensorarray basiert auf der DePFET Technologie. Hauptfokus dieser Arbeit ist die Charakterisierung und Optimierung der Betriebsparameter. Zusätzlich wurden Strahlenhärtetests durchgeführt um die Schädigungsmechanismen genauer zu untersuchen. Die Bestimmten Schädigungsraten wurden genutzt um Vorhersagen für den Langzeitbetrieb des Systems zu machen.     «

Das EDET DH80k Kamerasystem wird für hochintensive, echtzeit, Realraumbildgebung zur Beobachtung von ultraschnellen dynamischen Prozessen an Transmissions Eletronenmikroskopen (TEM) entwickelt. Das 1 MPixel Sensorarray basiert auf der DePFET Technologie. Hauptfokus dieser Arbeit ist die Charakterisierung und Optimierung der Betriebsparameter. Zusätzlich wurden Strahlenhärtetests durchgeführt um die Schädigungsmechanismen genauer zu untersuchen. Die Bestimmten Schädigungsraten wurden genutzt um V...     »