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User: Guest

Title:: Interferometry method for optically examining coatings
Patent application number:: WO 2010/046340
Inventor:: Hirth, F.; Dudeck, S.; Jakobi, M.; Gerhard, D.
Assignee:: Hirth, F.; Dudeck, S.; Jakobi, M.; Gerhard, D.
Application number:: WO 2010/046340
Year:: 2010
Format:: Text
BibTeX

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