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- Titel:
Interferometry method for optically examining coatings
- Patentanmeldung Nr.:
- WO 2010/046340
- Erfinder:
- Hirth, F.; Dudeck, S.; Jakobi, M.; Gerhard, D.
- Patentanmelder:
- Hirth, F.; Dudeck, S.; Jakobi, M.; Gerhard, D.
- Anmeldenummer:
- WO 2010/046340
- Jahr:
- 2010
- Format:
- Text
BibTeX