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- Titel:
Analysis of sub-pixel laser spot detection in laser triangulation systems
- Dokumenttyp:
- Konferenzbeitrag
- Art des Konferenzbeitrags:
- Poster
- Autor(en):
- Kienle, P.; Nallar, E.; Köhler, M.H.; Jakobi, M.; Koch, A.W.
- Kongress- / Buchtitel:
- SPIE Optical Metrology
- Ausrichter der Konferenz:
- SPIE Optical Metrology
- Datum der Konferenz:
- 24.06. bis 27.06.2019
- Jahr:
- 2019
- Volltext / DOI:
- doi:10.1117/12.2525669
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