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Titel:: Verfahren und Vorrichtung zur Erfassung eines Rotationswinkels und einer Rotationsrichtung eines Objektes mittels räumlicher Phasenschiebe-Speckle-Interferometrie.
Dokumenttyp:: Patentanmeldung
Patentanmeldung Nr.:: 10 2017 002 419.7
Patentanmelder:: Lu, M.
Anmeldeland:: DE
Datum der Patentanmeldung:: 14.03.2017
Veröffentlichungsdatum / Anmeldung:: 20.09.2018
Jahr:: 2018
BibTeX

Vorkommen:

Verfahren und Vorrichtung zur Erfassung eines Rotationswinkels und einer Rotationsrichtung eines Objektes mittels räumlicher Phasenschiebe-Speckle-Interferometrie.