Im Rahmen dieser Arbeit wird zunächst das Konzept der stationären Multipolquelle als Modell für Streuprozesse in der Quantenmechanik eingeführt. Durch Kombination mit Landauers Theorie der Leitfähigkeit in mesoskopischen Systemen erhalten wir eine vollständige Theorie für das Rastertunnelmikroskop (STM), in der die Spitze als Punktquelle von Elektronen modelliert wird. Dieser Formalismus liefert eine einfache Abschätzung für das Auflösungsvermögen des STM. Für spezielle Modellpotentiale läßt sich die Korrugation sogar in analytischer Form bestimmen. Mit vorliegenden experimentellen Daten wurde dabei gute Übereinstimmung erzielt.     «

Im Rahmen dieser Arbeit wird zunächst das Konzept der stationären Multipolquelle als Modell für Streuprozesse in der Quantenmechanik eingeführt. Durch Kombination mit Landauers Theorie der Leitfähigkeit in mesoskopischen Systemen erhalten wir eine vollständige Theorie für das Rastertunnelmikroskop (STM), in der die Spitze als Punktquelle von Elektronen modelliert wird. Dieser Formalismus liefert eine einfache Abschätzung für das Auflösungsvermögen des STM. Für spezielle Modellpotentiale läßt sic...     »

Within the framework of this thesis the concept of stationary multipole sources as model for scattering processes in quantum mechanics was developed. In consideration of Landauers theory of conductivity in mesoscopic systems we get a complete description of the scanning tunneling microscope (STM) where the tip is modeled as a point source of electrons. This formalism gives an estimate of the resolution of the STM in a very simple way. For special model potentials we calculate the corrugation in analytical form and compare the simulations with experimental data. Theory and experimental data are in good agreement to each other.     «

Within the framework of this thesis the concept of stationary multipole sources as model for scattering processes in quantum mechanics was developed. In consideration of Landauers theory of conductivity in mesoscopic systems we get a complete description of the scanning tunneling microscope (STM) where the tip is modeled as a point source of electrons. This formalism gives an estimate of the resolution of the STM in a very simple way. For special model potentials we calculate the corrugation in...     »