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- Originaltitel:
- Position Resolved Neutron Depth Profiling with the N4DP Instrument
- Übersetzter Titel:
- Ortsaufgelöste Neutronentiefenprofilanalyse mit dem N4DP-Instrument
- Autor:
- Neagu, Robert
- Jahr:
- 2024
- Dokumenttyp:
- Dissertation
- Fakultät/School:
- TUM School of Natural Sciences
- Institution:
- Professur für Elementarteilchenphysik bei niedrigen Energien (Prof. Märkisch)
- Betreuer:
- Märkisch, Bastian (Prof. Dr.)
- Gutachter:
- Märkisch, Bastian (Prof. Dr.); Mertens, Susanne (Prof. Dr.)
- Sprache:
- en
- Fachgebiet:
- PHY Physik
- Stichworte:
- NDP ; DSSSD ; N4DP
- TU-Systematik:
- PHY 400
- Kurzfassung:
- Neutron depth profile analysis is a method for the high-precision determination of concentration profiles of certain nuclides in near-surface layers. For an extension to 3D profiling, a detector system based on double-sided silicon strip detectors with a thin and homogeneous dead layer was developed and characterised. The combination of the detectors with application-specific integrated circuits enables profiling at the highest rates.
- Übersetzte Kurzfassung:
- Die Neutronentiefenprofilanalyse ist eine Methode zur hochpräzisen Bestimmung von Konzentrationsprofilen bestimmter Nuklide in oberflächennahen Schichten. Für eine Erweiterung auf 3D-Profilierung wurde ein Detektorsystem basierend auf doppelseitigen Silizium-Streifen-Detektoren mit einer dünnen und homogenen Totschicht entwickelt und charakterisiert. Die Kombination der Detektoren mit anwendungsspezifischen integrierten Schaltkreisen ermöglicht die Profilerstellung bei höchsten Raten.
- WWW:
- https://mediatum.ub.tum.de/?id=1759998
- Eingereicht am:
- 04.11.2024
- Mündliche Prüfung:
- 13.12.2024
- Dateigröße:
- 25384597 bytes
- Seiten:
- 128
- Urn (Zitierfähige URL):
- https://nbn-resolving.de/urn/resolver.pl?urn:nbn:de:bvb:91-diss-20241213-1759998-0-4
- Letzte Änderung:
- 16.01.2025
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