Benutzer: Gast  Login
Titel:

Shear and Out-of-Plane Stress Analysis in Silicon Chip-in-Foil Assemblies

Dokumenttyp:
Konferenzbeitrag
Autor(en):
Verma, Vartika; Riehm, Carl; Chlan, Tobias; Molnar, Szabolcs; Brederlow, Ralf
Seitenangaben Beitrag:
1-4
Kongress- / Buchtitel:
2025 IEEE SENSORS
Verlag / Institution:
IEEE
Publikationsdatum:
19.10.2025
Jahr:
2025
Volltext / DOI:
doi:10.1109/sensors59705.2025.11330499
 BibTeX