Login
- Titel:
Hot-carrier stress in n-type logic CMOS devices at temperatures down to thedeep-cryogenic regime
- Dokumenttyp:
- Konferenzbeitrag
- Autor(en):
- Peis, Jonas; Seilmeier, Florian; Strasser, Marc; Hagelauer, Amelie
- Stichworte:
- cryogenic temperatures ; cryo-CMOS ; HCS ; hot-carrier ; hot-carrier degradation
- Kongress- / Buchtitel:
- ESREF 2025 : 36th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis, 2025
- Kongress / Zusatzinformationen:
- #18
- Ausrichter der Konferenz:
- Université de Bordeaux, ADERA
- Verlagsort:
- Bordeaux, France
- Jahr:
- 2025
- Monat:
- October
- WWW:
- https://hal.science/hal-05369184
BibTeX