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Titel:

Device-level compact modeling of perpendicular Nanomagnetic Logic for benchmarking purposes

Dokumenttyp:
Konferenzbeitrag
Autor(en):
Breitkreutz-v. Gamm, S.; Žiemys, G.; Eichwald, I.; Schmitt-Landsiedel, D.; Becherer, M.; Csaba, G.; Bernstein, H.; Porod, W.
Kongress- / Buchtitel:
15\textsuperscriptth IEEE International Conference on Nanotechnology (IEEE-NANO)
Verlagsort:
Rome, Italy
Jahr:
2015
Print-ISBN:
9781467381550
Volltext / DOI:
doi:10.1109/nano.2015.7388796
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