Login
- Titel:
Cross-Layer Reliability Modeling of Dual-Port FeFET: Device-Algorithm Interaction
- Dokumenttyp:
- Zeitschriftenaufsatz
- Autor(en):
- Kumar, Shubham; Chatterjee, Swetaki; Thomann, Simon; Chauhan, Yogesh Singh; Amrouch, Hussam
- Zeitschriftentitel:
- IEEE Transactions on Circuits and Systems I: Regular Papers (TCAS-I)
- Jahr:
- 2023
- Band / Volume:
- 70
- Heft / Issue:
- 7
- Seitenangaben Beitrag:
- 2891-2903
- Volltext / DOI:
- doi:10.1109/TCSI.2023.3265427
BibTeX
Vorkommen:
- mediaTUM GesamtbestandHochschulbibliographie2023Integrated Research CentersMunich Institute of Robotics and Machine Intelligence (MIRMI)
- mediaTUM GesamtbestandHochschulbibliographie2023Schools und FakultätenTUM School of Computation, Information and TechnologyAI Processor Design (Prof. Amrouch)