In dieser Arbeit wurden Transmission Line Pulsing (TLP) Verfahren – etablierte Werkzeuge zur transienten Charakterisierung von Halbleiterelementen im Zeitbereich – mit dem Ziel untersucht, schnellschaltende Bauelemente insbesondere im Gebiet der Leistungselektronik zu charakterisieren. Hierbei wurde das neuartige „sensor gap TLP“ Verfahren entwickelt, das in der Lage ist, dynamische Schaltvorgänge moderner Leistungshalbleiter zu analysieren und dabei sowohl die nötigen lange Pulsdauern ermöglicht, als auch eine Systembandbreite von 10 GHz für die Spannungs- und die Strommessung erreicht.
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In dieser Arbeit wurden Transmission Line Pulsing (TLP) Verfahren – etablierte Werkzeuge zur transienten Charakterisierung von Halbleiterelementen im Zeitbereich – mit dem Ziel untersucht, schnellschaltende Bauelemente insbesondere im Gebiet der Leistungselektronik zu charakterisieren. Hierbei wurde das neuartige „sensor gap TLP“ Verfahren entwickelt, das in der Lage ist, dynamische Schaltvorgänge moderner Leistungshalbleiter zu analysieren und dabei sowohl die nötigen lange Pulsdauern ermöglich...
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