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- Document type:
- Konferenzbeitrag
- Contribution type:
- Vortrag / Präsentation
- Author(s):
- Schiele, S.; Hupfer, R.; Briesen, H.
- Title:
- Wachstumsanalyse von beschädigten Kristallen in 3D
- Book / Congress title:
- Jahrestreffen der ProcessNet Fachgruppe Kristallisation
- Publisher address:
- Online
- Year:
- 2021
- TUM Institution:
- Process Systems Engineering, TUM
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