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- Titel:
Wachstumsanalyse von beschädigten Kristallen in 3D
- Dokumenttyp:
- Konferenzbeitrag
- Art des Konferenzbeitrags:
- Vortrag / Präsentation
- Autor(en):
- Schiele, S.; Hupfer, R.; Briesen, H.
- Kongress- / Buchtitel:
- Jahrestreffen der ProcessNet Fachgruppe Kristallisation
- Verlagsort:
- Online
- Jahr:
- 2021
- TUM Einrichtung:
- Process Systems Engineering, TUM
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