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Titel:

Analyse ionenreduzierter Ausfallmechanismen in hochintegrierten CMOS-Speicherzellen

Dokumenttyp:
Buch
Autor(en):
Gawlina-Schmidl, Y.
Herausgeber:
Wachutka, G.; Schmitt-Landsiedel, D.
Band / Teilband / Volume:
49
Serientitel/Schriftenreihe:
Ausgewählte Probleme der Elektronik und Mikromechatronik
Verlag / Institution:
Shaker Verlag
Verlagsort:
Aachen
Jahr:
2015
Format:
Text
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