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Title:

Verfahren und Vorrichtung zur Erfassung eines Rotationswinkels und einer Rotationsrichtung eines Objektes mittels räumlicher Phasenschiebe-Speckle-Interferometrie.

Document type:
Patentanmeldung
Patent application number:
10 2017 002 419.7
Assignee:
Lu, M.
Patent office:
DE
Date of application:
14.03.2017
Publication date application:
20.09.2018
Year:
2018
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