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Titel:

Verfahren und Vorrichtung zur Erfassung eines Rotationswinkels und einer Rotationsrichtung eines Objektes mittels räumlicher Phasenschiebe-Speckle-Interferometrie.

Dokumenttyp:
Patentanmeldung
Patentanmeldung Nr.:
10 2017 002 419.7
Patentanmelder:
Lu, M.
Anmeldeland:
DE
Datum der Patentanmeldung:
14.03.2017
Veröffentlichungsdatum / Anmeldung:
20.09.2018
Jahr:
2018
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