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Titel:

ESD damage without failure, followed by EOS: A case study on automotive smart power IC's

Dokumenttyp:
Konferenzbeitrag
Autor(en):
Helmut, D.; Wachutka, G.; Groos, G.
Kongress- / Buchtitel:
Fachtagung Zuverlässigkeit und Entwurf
Datum der Konferenz:
18-20 September 2017
Verlagsort:
Berlin
Jahr:
2017
Jahr / Monat:
2017-09
Monat:
Sep
TUM Einrichtung:
Lehrstuhl für Technische Elektrophysik
Eingabe:
16.10.2018
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