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- Title:
ESD damage without failure, followed by EOS: A case study on automotive smart power IC's
- Document type:
- Konferenzbeitrag
- Author(s):
- Helmut, D.; Wachutka, G.; Groos, G.
- Book / Congress title:
- Fachtagung Zuverlässigkeit und Entwurf
- Date of congress:
- 18-20 September 2017
- Publisher address:
- Berlin
- Year:
- 2017
- Year / month:
- 2017-09
- Month:
- Sep
- TUM Institution:
- Lehrstuhl für Technische Elektrophysik
- Ingested:
- 16.10.2018
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