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- Document type:
- Report / Forschungsbericht
- Author(s):
- M. Eick, K. Lu, H. Graeb
- Title:
- Sizing of Analog Integrated Circuits using Symmetry Recognition
- Dewey Decimal Classification:
- 620
- Contracting organization:
- Lehrstuhl für Entwurfsautomatisierung
- Date of publication:
- 04.03.2010
- Year:
- 2010
- Pages:
- 15
- Language:
- en
- TUM Institution:
- Lehrstuhl für Entwurfsautomatisierung
- Format:
- Text
- Ingested:
- 05.03.2010
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