Strasser, Martin;Eick, Michael;Graeb, Helmut;Schlichtmann, Ulf.Deterministic Analog Placement by Enhanced Shape Functions.95-146.Analog Layout Synthesis.Graeb, Helmut.Springer.2010

Strasser, Martin;Eick, Michael;Graeb, Helmut;Schlichtmann, Ulf.Zur effizienten Berücksichtigung von Mindestabständen bei analogen Platzierverfahren.123-128.ITG/GMM-Fachtagung Entwurf von analogen Schaltungen mit CAE-Methoden (ANALOG).2010

Mueller-Gritschneder, Daniel;Graeb, Helmut.Berechnung von ausbeuteoptimierten Spezifikationsparetofronten für analoge integrierte Schaltungen.ITG/GMM-Fachtagung Entwurf von analogen Schaltungen mit CAE-Methoden (ANALOG).2010

Pehl, Michael;Graeb, Helmut.Dimensionierung Analoger Schaltungen mit diskreten Parametern unter Verwendung eines Zufalls- und Gradientenbasierten Ansatzes.ITG/GMM-Fachtagung Entwurf von analogen Schaltungen mit CAE-Methoden (ANALOG).2010

Csaba, Gyorgy;Ju, Xueming;Ma, Zhiqian;Chen, Qingqing;Porod, Wolfgang;Schmidhuber, Jürgen;Schlichtmann, Ulf;Lugli, Paolo;Rührmair, Ulrich.Application of mismatched cellular nonlinear networks for physical cryptography.IEEE International Workshop on Cellular Nanoscale Networks and their Applications.2010

Pan, Xin;Graeb, Helmut.Reliability Analysis of Analog Circuits by Lifetime Yield Prediction Using Worst-Case Distance Degradation Rate.IEEE International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED).2010

Habal, Husni;Graeb, Helmut.Accurate Analog Circuit Optimization with Layout Synthesis and Parasitic Extraction.Design, Automation and Test in Europe (DATE) University Booth.2010

Strasser, Martin;Graeb, Helmut;Schlichtmann, Ulf.Plantage+, Fully Automated, Industrial Level Analog Layout Tool.Design, Automation and Test in Europe (DATE) University Booth.2010

Pan, Xin;Graeb, Helmut.Lifetime Yield Optimization: Towards a Robust Analog Design for Reliability.Design, Automation and Test in Europe (DATE) University Booth.2010

Mueller-Gritschneder, Daniel;Graeb, Helmut.Computation of Yield-optimized Pareto Fronts for Analog Integrated Circuit Specifications.Design, Automation and Test in Europe (DATE).2010