Benutzer: Gast  Login
Sortieren nach:
und:
Mehr ...

Massier, Tobias
On the Structural Analysis of CMOS and Bipolar Analog Integrated Circuits
2010
Dissertation
114 Seiten

Mehr ...

Strasser, Martin;Eick, Michael;Graeb, Helmut;Schlichtmann, Ulf
Deterministic Analog Placement by Enhanced Shape Functions
95-146
Analog Layout Synthesis
Graeb, Helmut
Springer
2010

Mehr ...

Strasser, Martin;Eick, Michael;Graeb, Helmut;Schlichtmann, Ulf
Zur effizienten Berücksichtigung von Mindestabständen bei analogen Platzierverfahren
123-128
ITG/GMM-Fachtagung Entwurf von analogen Schaltungen mit CAE-Methoden (ANALOG)
2010

Mehr ...

Mueller-Gritschneder, Daniel;Graeb, Helmut
Berechnung von ausbeuteoptimierten Spezifikationsparetofronten für analoge integrierte Schaltungen
ITG/GMM-Fachtagung Entwurf von analogen Schaltungen mit CAE-Methoden (ANALOG)
2010

Mehr ...

Pehl, Michael;Graeb, Helmut
Dimensionierung Analoger Schaltungen mit diskreten Parametern unter Verwendung eines Zufalls- und Gradientenbasierten Ansatzes
ITG/GMM-Fachtagung Entwurf von analogen Schaltungen mit CAE-Methoden (ANALOG)
2010

Mehr ...

Csaba, Gyorgy;Ju, Xueming;Ma, Zhiqian;Chen, Qingqing;Porod, Wolfgang;Schmidhuber, Jürgen;Schlichtmann, Ulf;Lugli, Paolo;Rührmair, Ulrich
Application of mismatched cellular nonlinear networks for physical cryptography
IEEE International Workshop on Cellular Nanoscale Networks and their Applications
2010

Mehr ...

Pan, Xin;Graeb, Helmut
Reliability Analysis of Analog Circuits by Lifetime Yield Prediction Using Worst-Case Distance Degradation Rate
IEEE International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED)
2010

Mehr ...

Habal, Husni;Graeb, Helmut
Accurate Analog Circuit Optimization with Layout Synthesis and Parasitic Extraction
Design, Automation and Test in Europe (DATE) University Booth
2010

Mehr ...

Strasser, Martin;Graeb, Helmut;Schlichtmann, Ulf
Plantage+, Fully Automated, Industrial Level Analog Layout Tool
Design, Automation and Test in Europe (DATE) University Booth
2010

Mehr ...

Pan, Xin;Graeb, Helmut
Lifetime Yield Optimization: Towards a Robust Analog Design for Reliability
Design, Automation and Test in Europe (DATE) University Booth
2010