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Dokumenttyp:
Report / Forschungsbericht 
Autor(en):
M. Eick, K. Lu, H. Graeb 
Titel:
Sizing of Analog Integrated Circuits using Symmetry Recognition 
Dewey Dezimalklassifikation:
620 
Beauftragende Einrichtung:
Lehrstuhl für Entwurfsautomatisierung 
Publikationsdatum:
04.03.2010 
Jahr:
2010 
Seiten/Umfang:
15 
Sprache:
en 
TUM Einrichtung:
Lehrstuhl für Entwurfsautomatisierung 
Format:
Text 
Eingabe:
05.03.2010