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Dokumenttyp:
Konferenzbeitrag 
Autor(en):
Li, Bing; Schlichtmann, Ulf 
Titel:
Reliability-aware Synthesis and Fault Test of Fully Programmable Valve Arrays (FPVAs) 
Kongress- / Buchtitel:
IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems, (Invited Paper) 
Kongress / Zusatzinformationen:
(Invited Paper) 
Jahr:
2017 
Monat:
oct 
CC-Lizenz:
by, http://creativecommons.org/licenses/by/4.0