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- Titel:
Ultrafast Characterization of Gated and STI Diodes in Bulk FinFET and GAAFET Technologies
- Dokumenttyp:
- Konferenzbeitrag
- Autor(en):
- Groppo, Emanuele; Gossner, Harald; Chen, Wen-Chieh; Simicic, Marko; Brederlow, Ralf
- Seitenangaben Beitrag:
- 1-9
- Kongress- / Buchtitel:
- 2025 47th Annual EOS/ESD Symposium (EOS/ESD)
- Verlag / Institution:
- IEEE
- Publikationsdatum:
- 13.09.2025
- Jahr:
- 2025
- Volltext / DOI:
- doi:10.23919/eos/esd65588.2025.11224145
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