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Titel:

Breakdown of the Static Dielectric Screening Approximation of Coulomb Interactions in Atomically Thin Semiconductors

Dokumenttyp:
Zeitschriftenaufsatz
Autor(en):
Ben Mhenni, Amine; Van Tuan, Dinh; Geilen, Leonard; Petrić, Marko M.; Erdi, Melike; Watanabe, Kenji; Taniguchi, Takashi; Tongay, Seth Ariel; Müller, Kai; Wilson, Nathan P.; Finley, Jonathan J.; Dery, Hanan; Barbone, Matteo
Zeitschriftentitel:
ACS Nano
Jahr:
2025
Band / Volume:
19
Heft / Issue:
4
Seitenangaben Beitrag:
4269-4278
Volltext / DOI:
doi:10.1021/acsnano.4c11563
Verlag / Institution:
American Chemical Society (ACS)
E-ISSN:
1936-0851; 1936-086X
Publikationsdatum:
21.01.2025
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