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Titel:

Vth-Based RTN Model Implementation Using OMI Extended to Transient Model Parameter Updates

Dokumenttyp:
Konferenzbeitrag
Autor(en):
Keck, Mauro; Kubrak, Volker; Neunhoeffer, Tilman; Poeller, Luis; Mane, Sanjay; Tang, Mingchun; Hagelauer, Amelie
Stichworte:
Semiconductor device modeling; Performance evaluation; Runtime; Hidden Markov models; Mathematical models; Time measurement; Integrated circuit modeling; Transient analysis; Time-domain analysis; Parameter extraction
Kongress- / Buchtitel:
2025 International Compact Modeling Conference (ICMC)
Jahr:
2025
Seiten:
1-4
Volltext / DOI:
doi:10.1109/ICMC64879.2025.11102677
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